Tóm tắt:
Báo cáo này nghiên cứu hiệu ứng phồng rộp xảy ra tinh thể thạch anh (α-SiO2) khi bị chiếu xạ bằng chùm ion, với các năng lượng lần lượng là 2 MeV He2 + và 3 MeV Si2+ trên máy gia tốc hạt Tandem.
Sử dụng máy đo biên dạng bề mặt và kính hiển vi laser, sự phồng rộp được đo ở đường biên giữa vùng chiếu xạ và không bị chiếu xạ. Thí nghiệm cho thấy liều chiếu ion gây ra hiện tượng phồng rộp của từng ion là khác nhau phụ thuộc vào thông số chiếu xạ. Bằng cách chuyển đổi đơn vị liều chiếu ion sang số lần dịch chuyển trên mỗi nguyên tử (dpa) được tính toán bằng phần mềm SRIM, liều dpa tới hạn được xác định nằm trong khoảng 0,04 dpa, tương ứng năng lượng hấp thụ là 2eV/nguyên tử.
Đây là liều hấp thụ năng lượng cần thiết để hình thành một vùng vô định hình nằm trong tinh thể gây ra bởi chùm ion.
Từ khóa: sự xuống cấp của bê tông, giải phóng ứng suất, chiếu xạ ion, khuyết tật do bức xạ
