Tóm tắt: Trong bài báo này, chúng tôi nghiên cứu về sự ảnh hưởng của tỷ lệ Si/Al và thời gian kết tinh lên cấu trúc cũng như quá trình tinh thể hoá của vật liệu Zeolite 4A. Bằng cách sử dụng phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD) kết hợp với phổ kế thời gian sống positron (PALS), chúng tôi đã chứng minh được rằng sự thay đổi tỷ lệ Si/Al trong khoảng giữa 1/2 và 1/1 thực tế không ảnh hưởng tới quá trình hình thành khung cấu trúc cơ bản của Zeolite 4A sau khi tổng hợp. Tuy nhiên, tỷ lệ này sẽ ảnh hưởng trực tiếp lên quá trình kết tinh, cụ thể là kích thước và phân bố kích thước của các tinh thể hình thành trong mẫu. Ngoài ra, các kết quả phân tích trên PALS đã chỉ ra rằng phổ thời gian sống của positron khá nhạy với sự thay đổi của vật liệu Zeolite 4A từ trạng thái có cấu trúc vô định hình sang trạng thái có cấu trúc tinh thể. Đặc biệt, nhờ việc sử dụng kết hợp giữa XRD và PALS, chúng tôi đã phát hiện ra sự xuất hiện của các sai hỏng mạng và các lỗ rỗng trung bình có bán kính lớn hơn 2 nm trong vật liệu Zeolite 4A này. Phát hiện về sự tồn tại của lỗ rỗng trung bình trong vật liệu Zeolite 4A này chưa được công bố trong các nghiên cứu trước đó.
Từ khóa: Positron, nhiễu xạ tia X, Zeolite 4A, lỗ rỗng trung bình.
