Tóm tắt:Trong thí nghiệm này, chúng tôi sử dụng liều kế quang phát quang nanoDot (Nagase, Landauer) đánh giá sự phân bố liều bức xạ trong máy phát tia X SOFTEX M-60W (SOFTEX Corp., Ebina-shi, Kanagawa, JAPAN). Sắp xếp và đánh giá mức liều của 361 liều kế nanoDot trên tấm kim loại kích thước 45×45 cm cùng kích thước với tiết diện mặt đáy bên trong buồng phát tia X sau khi chiếu xạ chúng bởi máy phát tia X ở điều kiện 50kV, 2.5 mA. Thí nghiệm được thực hiện với cùng điều kiện đo chỉ vị trí tấm kim loại thay đổi ở ba nấc có sẵn trong buồng phát tia X tương ứng ba khoảng cách khác nhau tính từ ống phát tia X. Kết quả cho thấy có sự lệch trái của các mức liều cao của cả ba phân bố. Các thông tin về sự phân bố mức liều bức xạ tia X trong thiết bị này rất hữu ích trong việc xác định vị trí và mức liều nhận được tương ứng trên tấm kim loại khi đặt trong buồng phát tia X. Tuy nhiên, thực hiện thí nghiệm này với nhiều điều kiện đo đạc nhằm đánh giá sự phân bố liều bức xạ trong máy phát tia X một cách đầy đủ hơn và cần thiết đối với các thí nghiệm khác trong tương lai.
Từ khóa: tia X, nanoDot, OSL, microStar, liều bức xạ.
